A = A21, coefficient d'émission spontanée d'Einstein ;
Angström, unité de longueur équivalent à 10-10 mètre ;
B12, B21, respectivement les coefficients d'absorption et d'émission stimulée d'Einstein.
BC, Bande de Conduction d'un semi-conducteur ;
BI ou gap, Bande Interdite d'un semi-conducteur ;
BV, Bande de Valence d'un semi-conducteur ;
C3, Coupled Clived Crystal ;
Cohérence spatiale, à un instant donné, deux points A et A' appartenant au plan perpendiculaire à la direction de propagation du faisceau LASER, sont en phase (Figure 56) ;
Cohérence temporelle, deux points A et B appartenant à l'axe de propagation du faisceau LASER et distant de la longueur d'onde du faisceau Lambda, sont en phase (Figure 56) ;
Figure 56 Cohérence spatiale et temporelle d'un faisceau LASER
Condition d'oscillation, un amplificateur électronique ou optique se met à osciller dès que la condition d'oscillation Gain * Réaction >= 1 est respectée.
D.d.p., différence de potentiels (ou tension électrique) ;
Dégénérescence d'un niveau d'énergie gi et dégénérescence Zeeman, " chaque niveau est caractérisé par un nombre quantique J (moment cinétique total électronique). En l'absence de champ magnétique, ce niveau est dégénéré, c'est-à-dire composé de plusieurs états, dits sous-niveaux, de même énergie qui se superposent. Il correspond en fait à plusieurs sous-niveaux magnétiques. En présence d'un champ magnétique, ce niveau se scinde en 2 * J + 1 niveaux correspondant aux différentes valeurs de mJ avec mJ prenant les valeurs entières entre - J et + J. " [CEA-CLEFS41]
DFB, Distributed FeedBack ;
DHS, Double Hétéro-Structure ;
DWDM, Dense WDM ;
Ef, niveau de Fermi d'un semi-conducteur ;
Effet Peltier, effet thermoélectrique dû au passage d'un courant électrique d'un métal à un autre (d'une autre nature). Cet effet est utilisé dans les systèmes de refroidissement.
Electrons liés, " électrons restant liés au noyau (atomique) après ionisation des électrons plus externes de l'un des atomes du milieu considéré " [CEA-CLEFS41]
EQD, Efficacité Quantique Différentielle ;
Interféromètre de Fabry-Perot, il s'agit d'un interféromètre à ondes multiples composé de deux miroirs à faces parallèles de pouvoir réflecteur et de transmission en intensité R et T respectivement (Figure 57). Cet appareil est utilisé comme spectromètre et est caractérisé par son pouvoir de résolution et sa finesse.
Figure 57 Interféromètre de Fabry-Perot
Interféromètre de Michelson (1881), composé d'une lame séparatrice et de deux miroirs. La différence de marche des deux rayons lumineux sortant de l'interféromètre est introduite lorsque les deux bras de l'interféromètre ne possèdent pas la même longueur (Figure 58). Cet interféromètre sera utilisé pour montrer que la lumière se propage de manière constante dans toutes les directions de l'espace (expérience de Michelson et Morley de 1887) ;
Figure 58 Interféromètre de Michelson
Interféromètre de Sagnac (1913), composé d'une lame séparatrice et de trois miroirs (Figure 59), ce système sera utilisé pour mettre en évidence la rotation de la Terre sur elle-même. A partir d'un phénomène d'interférence et de rayons contra-propageant, cet interféromètre permet de mesurer une vitesse de rotation et peut être utilisé comme gyromètre.
Figure 59 Interféromètre de Sagnac
Inversion de population, lorsque dans un système, le nombre d'atomes dans l'état excité dépasse le nombre d'atomes dans l'état fondamental (Equation 1) ;
IR, Infrarouge, photons de longueur d'onde de l'ordre de 300 µm ;
LASER, Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation, source de lumière émettant du domaine des rayons X (longueur d'onde de 100 Angströms ou 0.01 µm) jusqu'au domaine du proche infrarouge (environ 1 µm) ;
LD, LASER Diode ;
MASER, Microwave Amplification by Stimulated Emission of Radiation, source de lumière émettant du domaine des ondes hyper-fréquence ou micro-ondes (longueur d'onde de 1mm ou 1000 µm) jusqu'au domaine de l'infrarouge moyen (quelques µm à plusieurs dizaines) ;
PD, Photo-diode ;
Photon, particule associée à une onde électromagnétique (dualité onde-corpuscule) ;
PR, Pouvoir de résolution, défini comme l'inverse de la résolution Res par la relation :
PR = 1 / Res
Equation 33 Pouvoir de résolution et résolution
Avec :
R, Pouvoir réflecteur en intensité, pourcentage de réflexion d'une onde incidente (tout ce qui n'est pas réfléchi étant transmis, absorbé ou diffusé) ;
Rayon X, photons de longueur d'onde de l'ordre de 100 Angströms ;
REM, Rayonnement Electro-Magnétique ;
Res, résolution d'une source lumineuse définie à partir du pouvoir de résolution PR ;
Résistivité Rho, cette valeur dépend de la longueur L, de la résistance R et de la section S de matériau traversé (typiquement un fil). L'unité de résistivité est l'ohm*mètre. La résistivité dépend de la température T du matériau, selon sa nature (isolant, semi-conducteur, métal ou supra-conducteur). La résistance R d'un matériau est liée à la résistivité par la relation suivante :
R = Rho(T) * L / S
Equation 34 Relation entre résistance et résistivité
Figure 60 Résistivité d'un fil de longueur L et de section S (paramètres externes), de résistance R, de résistivité Rho, porté à la température T
SC, Semi-Conducteur ;
Seuil d'oscillation, un amplificateur électronique ou optique se met à osciller dès que le seuil Gain * Réaction = 1 est atteint.
Spectromètre, appareil de mesure utilisé pour connaître la longueur d'onde (la fréquence) d'une onde incidente ;
T, Pouvoir de transmission en intensité, pourcentage de transmission d'une onde incidente (tout ce qui n'est pas transmis étant réfléchi, absorbé ou diffusé) ;
TE, Transverse Electric ;
TM, Transverse Magnetic ;
VCSEL, Vertical Cavity Surface Emitting LASER ;
WDM, Wavelength Division Multiplexing, multiplexage en longueur d'onde sur certaines fibres optiques. Plusieurs faisceaux LASER (2, 4, 8, 16, …, 96) convergent alors vers la même fibre optique qui les transporte sans interférence à condition que les faisceaux LASER ne possèdent pas la même longueur d'onde ou fréquence d'émission ;